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            首頁 > 技術與支持 > 日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000
            

            

            	 
			 				 

            日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000
            

            點擊次數：2183 更新時間：2021-03-01
            

            

            日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000概述
            X-Supreme8000 XRF針對進行質量保證和過程控制要求的分析儀。
            分析可被應用于多種樣品種類，包括固體、液體、粉末 、軟膏、薄膜等，從PPM到%級，覆蓋元素周期表中 Na11 至 U92 的范圍。
            日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000特點
            ★ 少或無需樣本制備。
            ★ 無人操作，且非實驗室操作員也可使用
            ★ FocusSD 技術提供快速、準確和長期的可靠性
            ★ 靈活進行定性、半定量和全定量分析
            ★ X-Supreme8000符合ASTM D4294、ISO8754、ISO20847和ISO13032檢測方法。
            

            







  
	 
            

            

            

            


















            





 
  


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