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            賽可世界樶高分辨率X-eye NF120介紹
            

            點擊次數：1970 更新時間：2021-11-11
            

            

            賽可世界樶高分辨率X-eye NF120概述
            納米-focus X射線檢測設備
            適應于亞微米單位不良檢測要求的半導體封裝，晶片領域檢測(WLP)，配備400納米級的納米-focus 射線管的設備。
            用精密的定位軸可將不良位置準確的檢查出來。
            配備3D CT模塊時可進行單層分析，通過晶片方向盤的安裝，對晶片樣品進行自動解讀。
            Wafer Bump Void
            Wafer TSV Void
            賽可世界樶高分辨率X-eye NF120特點
            ★ 為 Wafer Lebel Packaging檢測的非破壞分析設備
            ★ 提供Dual Type的CT，獲得最清影像
            ★ TSV, Micro Bump, Pattern

            

            







  
	 
            

            

            

            


















            





 
  


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